我們專注于橫向干涉測量法，它是最敏感的光纖測量技術(shù)。因?yàn)闇y量是橫向執(zhí)行（通過光纖的端口），所以它從本質(zhì)上是無損檢測。雖然光纖的高分子涂層或者緩沖區(qū)必須被去除，光纖本身仍然可以繼續(xù)傳輸測量中的光信號，同時如果必要的話那些高分子涂層在光纖測量之后可以被完全恢復(fù)。光纖折射率分析儀可以對光纖樣品進(jìn)行單波長、多波長的1D、2D測量，獲得任何類型光纖的折射率、應(yīng)力和幾何形狀數(shù)據(jù)。

產(chǎn)品特點(diǎn)

• 多波長
• 無劈開要求
• 亞微米空間分辨率
• 適用于任何形式光纖
• 快速測量
• 可測量接頭、錐度、耦合器

可選項(xiàng)

• 測量在紅外范圍內(nèi)的特定波長(900nm到2000nm)，需要選擇IFA-100-IR版。
• 多波長測量500nm～1000nm范圍內(nèi)選擇，需要購買IFA-100-MW選項(xiàng)。
• 多波長測量900nm～2000nm范圍內(nèi)選擇，需要使用IFA-100-IR版本和購買IFA-100-MW選項(xiàng)。
• 測量直徑超過420μm的光纖，需要購買IFA-100-LD選項(xiàng)。
• 基于光纖雙折射測量特種光纖的殘余軸向熱應(yīng)力的能力，需要購買IFA-100-STRESS選項(xiàng)。
• 基于光纖雙折射對特種光纖的殘余軸向熱應(yīng)力的2D測量能力，需要購買IFA-100-STRESS和IFA-100-ROT選項(xiàng)。
• 鐿摻雜2D空間分布的測量，需要購買IFM-100-SEM和IFA-100-ROT選項(xiàng)。
• 鉺、銩、鈥摻雜2D空間分布的測量，需要使用IFA-100-IR和購買IFM-100-SEM和IFA-100-ROT選項(xiàng)。